Efficient static test compaction algorithms for combinational circuits based on test relaxation

dc.contributor.authorYAHYA ESMAIL OSAIS
dc.date2003
dc.date.accessioned2022-05-18T04:41:48Z
dc.date.available2022-05-18T04:41:48Z
dc.degree.departmentCollege of Computer Science and Engineering
dc.degree.grantorKing Fahad for Petrolem University
dc.description.abstractالتطور المذهل في تصميم وصناعة الرقائق ذات التكامل العالي جداً مهد الطريق لصناعة الرقائق الحاوية للأنظمة . أحد التحديات في هذه التقنية هو الحجم الكبير لبيانات الاختبار . يمكن حل هذه المشكلة بتقليص أو ضغط البيانات . في هذه الأطروحة نقدم طرق جديدة لتقليص بيانات الاختبار بعد إنتاجها ولإعادة ترتيب هذه البيانات للدوائر المنطقية غير التعاقبية . كما نقدم طائفة جديدة من خوارزميات تقليص بيانات الاختبار مبنية على تفكيك البيانات . النتائج التجريبية تعكس كفاءة الخوارزميات المقترحة .
dc.identifier.other5291
dc.identifier.urihttps://drepo.sdl.edu.sa/handle/20.500.14154/1400
dc.language.isoen
dc.publisherSaudi Digital Library
dc.thesis.levelMaster
dc.thesis.sourceKing Fahad for Petrolem University
dc.titleEfficient static test compaction algorithms for combinational circuits based on test relaxation
dc.typeThesis

Files

Copyright owned by the Saudi Digital Library (SDL) © 2025