Browsing by Author "KHALED AL-UTAIBI"
Now showing 1 - 1 of 1
- Results Per Page
- Sort Options
Item Restricted An Efficient test-pattern relaxation technique for synchronous sequential circuits(Saudi Digital Library) KHALED AL-UTAIBIإن اختبار الأنظمة المدمجة على رقاقة واحدة يتطلب تطبيق أعداد ضخمة من بيانات الاختبار التي يتم تخزينها في ذاكرة أجهزة الاختبار قبل تطبيقها على الدوائر المراد فحصها ، ولذلك فإن التعامل مع هذه الكميات الضخمة من بيانات الاختبار يتطلب استخدام تقنيات فعالة ، كضغط البيانات وتقليصها ، وذلك لتقليص وقت الاختبار وكمية الذاكرة المطلوبة لفحص الدوائر ، والملاحظ أن بعض تقنيات ضغط"تقليص البيانات تتطلب أن تكون بيانات الاختبار محددة جزئياً ، بينما يمكن للبعض الآخر من هذه التقنيات الاستفادة من بيانات الاختبار المحددة جزئياً من خلال تحديد هذه البيانات بما يزيد من فاعلية عملية الضغط أو التقليص . تقتضي الطرق التقليدية لاستخلاص بيانات الاختبار المحددة جزئياً ؛ تحويل قيمة كل وحدة من بيانات الاختبار إلى قيمة غير محددة ، ومن ثم اختبار الدائرة لمعرفة تأثير الوحدة المعدلة على عدد الأخطاء المكتشفة ، وبناء على نتيجة الاختبار تحتفظ الوحدات التي لم تؤثر على عدد الأخطاء المكتشفة بالقيم غير المحددة ، بينما تستعيد الوحدات التي أثرت على عدد الأخطاء المكتشفة قيمها الأصلية . في هذه الأطروحة نقدم تقنية جديدة لاستخلاص بيانات الاختبار المحددة جزئياً للدوائر المتسلسلة . التقنية المقترحة تتفوق على الطرق التقليدية في عامل الوقت الذي تتطلبه عملية استخلاص البيانات المحددة جزئياً .0 0