A SPECIAL PURPOSEPROCESSORFOR IC TESTING AND SPEED CHARACTERIZATION
No Thumbnail Available
Date
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Saudi Digital Library
Abstract
يتم اختبار وتوصيف سرعة الدوائر الإلكترونية الرقمية IC بطرق تقليدية تعتمد على استخدام أجهزة اختبار أوتوماتيكية مكلفة جداًAutomatic Test Equipments (ATEs). يمكن أيضا استخدام دوائر الفحص التلقائي (BIST) كحلول قليلة التكلفة لتقوم باختبارات السرعة العالية. لكن استخدامها يتطلب تعديلات في الدائرة المراد اختبارها لتتلائم مع طريقة التوليد العشوائي لسلاسل الاختبار (و تعرف أيضا بإضافة نقاط أختبار). كما أنها غير مصممة لاستخدامها مباشرة من أجلتوصيف السرعة. هناك حاجة لطرق أخرى أقل كلفة لاختبار و توصيف سرعة الدوائر، خاصة لمبتكريالدوائر الرقمية المبتكرة Circuit IPs في الشركات الصغيرة و الجامعات. في هذه الرسالة، تم تصميم و تطبيق و اختبار معالج خاص باختبار وتوصيف الدوائر الإلكترونية A Special Purpose Test and Characterization Processor (TACP). المعالج يستخدم دائرة إلكترونية أخرى مساندة صممت خصيصا لتسهيل عمله، بحيث يتم دمجها و تصنيعها في رقاقة إلكترونية مع الدوائر الرقمية المطلوب إختبارها و توصيف سرعتها. الدائرة المساندة - بالتنسيق مع المعالج المستقل (الغير مصنوع معها في نفس الرقاقة الإلكترونية)- تستلم بيانات الإختبار و تعيد ترتيبها ثم تطبقها على الدائرة المطلوب إختبارهاز و بعد ذلك تقوم بترتيب النتائج ثم ترسلها للمعالج بالطريقة التسلسلية Serially. الدائرة المساندة فيها أيضا ترددات قابل للضبط Configurable Clock Generator (CCG) يتحكم به المعالج. فعندما يقوم المعالح بتطبيق بيانات الإختبار مع التحكم بالتردد يمكن توصيف الدائرة و إيجاد أعلى سرعة يمكن أن تعمل عليه. تم إثبات هذا المفهوم بتطبيقه عمليا باستخدام الدوائر الرقمية القابلة للبرمجة Field Programmable Gate Array (FPGA)، حيث تم تصميم المعالج على واحدة منها و تم عمل محاكاة للدائرة المساندة مع بعض الدوائر للإختبار في واحدة أخرى. كما تم تصميم برنامج حاسوبي متكامل يسمح للمستخدم بكتابة برنامج إختبار و إدخال بيانات الإختبار و قراءة النتائج عبر الحاسوب.