Efficient static test compaction algorithms for combinational circuits based on test relaxation
No Thumbnail Available
Date
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Saudi Digital Library
Abstract
التطور المذهل في تصميم وصناعة الرقائق ذات التكامل العالي جداً مهد الطريق لصناعة الرقائق الحاوية للأنظمة . أحد التحديات في هذه التقنية هو الحجم الكبير لبيانات الاختبار . يمكن حل هذه المشكلة بتقليص أو ضغط البيانات . في هذه الأطروحة نقدم طرق جديدة لتقليص بيانات الاختبار بعد إنتاجها ولإعادة ترتيب هذه البيانات للدوائر المنطقية غير التعاقبية . كما نقدم طائفة جديدة من خوارزميات تقليص بيانات الاختبار مبنية على تفكيك البيانات . النتائج التجريبية تعكس كفاءة الخوارزميات المقترحة .