توصيف البنية البلورية للأغشية الرقيقةِAs 〖In〗_x 〖Ga〗_(1-x) بواسطة حيود الأشعة السينية
| dc.contributor.author | مى عبدالعزيز علي المحيميد | |
| dc.date | 2020 | |
| dc.date.accessioned | 2022-05-22T20:10:09Z | |
| dc.date.accessioned | 2023-05-08T22:01:56Z | |
| dc.date.accessioned | 2023-05-09T21:39:05Z | |
| dc.date.available | 2022-05-22T20:10:09Z | |
| dc.date.available | 2023-05-08T22:01:56Z | |
| dc.date.available | 2023-05-09T21:39:05Z | |
| dc.degree.department | كلية العلوم | |
| dc.degree.grantor | Qassim University | |
| dc.description.abstract | High Resolution X-Ray Diffraction technique is used to study the structural properties of InGaAs/GaAs(100) grown by MOCVD. | |
| dc.identifier.other | 7078 | |
| dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/20.500.14154/28682 | |
| dc.language.iso | en | |
| dc.publisher | Saudi Digital Library | |
| dc.thesis.source | Qassim University | |
| dc.title | توصيف البنية البلورية للأغشية الرقيقةِAs 〖In〗_x 〖Ga〗_(1-x) بواسطة حيود الأشعة السينية | |
| dc.type | Thesis |